芯耀
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在快速发展的电子领域，光继电器已成为固态开关领域的关键技术。与传统的机械继电器不同，光继电器具有多种优势，包括更长的使用寿命、更快的开关速度和更低的功耗。光继电器是一种使用光来切换电信号的固态继电器。它由一个LED（发光二极管）组成，当LED被激活时，它会将光发射到光电探测器上，光电探测器又会控制MOSFET来切换负载。与机械继电器不同，光继电器无需物理接触即可提供电气隔离，这使得它们更可靠、更高效。光继电器利用硅和砷化镓等半导体材料的独特特性来实现对电信号的精确控制。光继电器内的LED通常由砷化镓制成，当施加电压时会发出红外光。然后光电二极管或光电晶体管检测到该光，从而触发MOSFET传导或阻断负载电流。使用光作为控制机制可确保输入和输出之间完全电气隔离，从而降低噪音并提高可靠性。
光继电器相对于机械继电器的最显著优势之一是使用寿命长。机械继电器依靠移动部件，这些部件容易磨损，最终导致故障。相比之下，光继电器没有移动部件，使用寿命更长。此外，与机械继电器所需的毫秒相比，光继电器的切换时间更快，通常在微秒范围内。这种快速响应对于电信和工业自动化等高速应用至关重要。光继电器在电信领域得到广泛应用，其快速切换功能对于信号路由和网络管理至关重要。在工业自动化中，光继电器用于可编程逻辑控制器（PLC）和电机控制系统，其耐用性和效率有助于可靠运行。汽车行业也受益于光继电器，它们用于照明和传感器系统，其体积小，耐恶劣环境等，光继电器代表了电子开关领域的重大进步，比传统机械继电器具有许多优势。它们的耐用性、效率和快速开关能力使其成为从电信到汽车系统等广泛应用的理想选择。随着技术的不断发展，光继电器在塑造电子未来方面的作用将不断扩大，推动创新并实现新的可能性。
优点為 1. 电气隔离：光继电器能够将输入和输出之间的电气信号完全隔离，避免了因电气信号之间的相互干扰而导致的电气噪声或故障。这种电气隔离可以提高系统的安全性和可靠性。2.?信号传递：光继电器可以将输入信号转换为光信号，通过光耦合传递到输出侧，再将光信号转换为电信号输出。这种光电转换的方式可以有效传递信号，同时减少了信号传输过程中的电磁干扰。3. 高速开关：光继电器具有快速的开关速度和响应时间，能够实现高速开关操作。相较于机械继电器，光继电器的开关速度更快，可以在微秒甚至纳秒级别实现开关操作。4. 低功耗：光继电器在工作时消耗的功率相对较低，因为它是通过光信号来控制的，而无需消耗大量电流和能量。5. 长寿命和可靠性：光继电器无机械接触，因此没有机械磨损和烧损的问题，具有较长的寿命和良好的可靠性。它们在高温、高湿度等恶劣环境条件下也能够正常工作。6.?小型化和集成化：光继电器的体积相对较小，适合于高密度和小型化的电路设计。同时，光继电器也可以与其他电子元件进行集成，以实现更多功能的组合。
半导体行业作为现代电子技术的核心，对测试设备的精度和稳定性有着极高的要求。光继电器以其独特的电气隔离能力和高速响应特性，在半导体测试设备中扮演了不可或缺的角色。光继电器的兼容性与适应性在设计半导体测试设备时，光继电器的兼容性和适应性是必须考虑的关键因素。光继电器的选型通常基于以下几个关键参数：
- 开关速度 : 对于高速测试应用，光继电器的开关速度需足够快，以匹配测试设备的频率要求。
- 电流电压规格 : 光继电器能承受的电流和电压必须与测试设备的工作条件相匹配。
- 隔离电压 : 根据测试设备的工作电压和安全标准，选择合适的隔离电压等级。
- 寿命 : 光继电器的寿命直接关系到测试设备的维护周期和运行成本。
『东芝现已推出适用于半导体测试设备的低压光继电器“TLP3450S”。半导体测试设备（ATE：自动测试设备）通过向系统LSI或半导体存储器等被测器件（DUT）的指定引脚施加电压/电流，验证DUT是否正常工作。一些光继电器（MOSFET输出）作为一种固态继电器，用于切换指定引脚的回路。ATE必须具有高吞吐量，以便同时测量具有大量引脚的多个DUT。因此，其必须具备高速开关功能，以减少开关动作造成的测试时间损失。同时，为满足该需求，还必须研制微型光继电器，从而在有限的电路板空间内实现大量贴装目的。此外，由于其尺寸小、工作温度高，因此除了ATE应用外，它还是一种可广泛应用于可编程逻辑控制器（PLC）和其它工业设备的半导体开关。新产品TLP3450S采用小型封装S-VSON4T。我们还改善了红外线LED的光输出性能，并优化光电检测器器件（光电二极管阵列）的设计。因此，新产品的开关时间（导通时间）为80 μs（最大值），仅为现有产品TLP3450的40%。另外，TLP3450S的输出电容更小、导通电阻更低。当输出关断时，输出电容会影响高频信号泄漏；而当输出导通时，导通电阻会影响信号衰减。对于可非常精确且快速地测量DUT的半导体测试设备，TLP3450S适用于这类设备的引脚电子。』
产品特点 :?
快速导通时间
2.输出电容小
MOSFET的断态输出引脚之间的电容称为输出电容，用COFF表示。当除直流电流外的信号（如脉冲）受控时，且光继电器处于断态的情况下，信号会通过该电容发生泄漏。特别是在ATE中，必须非常精确地测量DUT，但如果COFF较大，这种方法不太可行，因为容易产生泄漏电流。现有产品TLP3450的COFF为0.8 pF（典型值），而本产品达到了0.6 pF（典型值），可以进一步抑制断态情况下的信号泄漏
3.小型封装S-VSON4T，适合高密度贴装
测试头分为两大类：器件电源（DPS）类和引脚电子（PE）类。ATE使用继电器来切换电源和信号，从而同时测量多个DUT。虽然测试设备高速处理等技术创新并不常见，但对于必须满足低成本和高可靠性要求的半导体测试设备而言，高密度测试板必不可少。现有的机械式继电器无法满足这些要求，半导体继电器（光继电器）可取代它们，从而可在有限的电路板空间内贴装许多光继电器。新型TLP3450S产品采用小型封装S-VSON4T（1.45 mm×2.0 mm（典型值），t＝1.4 mm（最大值）），有助于提高贴装密度。与现有产品TLP3450相比，其封装区域大约减小了18%
