本应用说明描述了催化裂化装置输入故障源。此外,对于每种情况,它描述了如何验证错误反应路径的完整性以及注入故障的推荐方法。
本文档中提到的设备是SPC584Cx/SPC58ECx(40 nm-主体-ASIL B)。然而,大多数概念也适用于属于SPC5 32位汽车MCU的40nm和55nm系列的其他设备。
在阅读本文档之前,读者应该对催化裂化装置的使用有一个清晰的了解。有关此模块的更多详细信息,请参阅SPC584Cx微控制器参考手册中的“故障收集和控制单元(FCCU)”一章(见第A.1节:文件参考)。
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